Digitalisierer

Trigger Eingang Digitalisierer

Trigger input digitizer

Handschrifterkennungsverfahren, umfassend die folgenden Schritte: Verwenden wenigstens eines Beschleunigungsmessgeräts (25), das in einem Handschriftelement (10) an einer anderen Stelle als an der Spitze davon angeordnet ist, und wenigstens eines Digitalisierers, der auf einer zusätzlichen unterschiedlichen Erfassungstechnik basiert, zum Erfassen einer Handschrift; Empfangen einer Ausgangsanzeige über die Handschrift und Bereitstellen einer Ausgangsanzeige von Symbolen, die von der Handschrift dargestellt werden, wobei der Schritt zum Bereitstellen einer Ausgangsanzeige von Symbolen einen Eingang von einem Digitalisierer (12) zum Bereitstellen eines ersten Ausgangs, der eine Identifikation von Symbolen darstellt, entlang eines ersten Identifikationskanals verwendet und einen Eingang von dem wenigstens einen Beschleunigungsmessgerät (25) verwendet, um einen zweiten Ausgang, der eine Identifikation von Symbolen darstellt, entlang eines zweiten Identifikationskanals bereitzustellen, und zwischen den ersten und zweiten Ausgängen auf Grundlage von vorgegebenen Kriterien wählt.

A handwriting recognition method comprising; employing at least one accelerometer (25) located in a hand writing implement (10) other than at the tip thereof and at least one digitizer based on an additional different sensing technique to sense handwriting; and receiving an output indication of the handwriting and providing an output indication of symbols represented by the handwriting, wherein said step of providing an output indication of symbols employs input from a digitizer (12) to provide a first output representing identification of symbols along a first identification channel and employs input from said at least one accelerometer (25) to provide a second output representing identification of symbols along a second identification channel and selects between the first and second outputs based on predetermined criteria.

Wechselstrombewertungsanordnung zur Prüfung, ob Wechselstromvorrichtungen, die in einem analogen Testteil eines IC-Testgeräts verwendet werden, innerhalb vorbestimmter Toleranzen liegen, wobei das IC-Testgerät enthält den analogen Testteil (100) zur hauptsächlichen Ausführung des analogen Testens von ICs, enthaltend: einen ersten und einen zweiten Wechselstromsignalgenerator (11, 24) zur Erzeugung von Wechselstromsignalen voreingestellter Frequenzen und Pegel, einen Gleichspannungsgenerator (21) zur Erzeugung einer Gleichspannung eines voreingestellten Pegels, einen Zeitsteuersignalgenerator (23) zur Erzeugung eines Zeitsteuersignals mit voreingestellter Frequenz und Tastverhältnis, einen Digitalisierer (15) zur Analysierung von Frequenzkomponenten einer Eingangssignalwellenform und deren Pegel, eine Präzisionsspannungsmeßeinheit (26) zum Messen einer Gleichspannung mit hoher Genauigkeit, und einen Testprozessor (18), der über Busmittel (33, 19) mit dem ersten und dem zweiten Wechselstromsignalgenerator, dem Gleichspannungsgenerator, dem Zeitsteuersignalgenerator, dem Digitalisierer und der Präzisionsspannungsmeßeinheit verbunden ist, wobei der Testprozessor sie steuert und von dem Digitalisierer und der Präzisionsspannungsmeßeinheit empfangene Daten verarbeitet, und eine an dem analogen Testteil angebrachte Performance-Platte (32), um darauf zu testende ICs zu montieren, wobei die Wechselstrombewertungsanordnung montiert auf der Performance-Platte (32) weiter umfaßt: einen analogen Schalter (22), der mit den Ausgängen des Gleichspannungsgenerators (21) und des Zeitsteuersignalgenerators (23) verbunden ist, um ein Rechteckwellensignal der Frequenz und des Tastverhältnisses des ihm eingegebenen Zeitsteuersignals mit einem Pegel entsprechend der ihm eingegebenen Gleichspannung zu erzeugen, eine Detektorschaltung (25) mit einer Eingangs/Ausgangs-Frequenzcharakteristik, die über ein weites Band im wesentlichen flach ist, ein mit dem Ausgang des zweiten Wechselstromsignalgenerators (24) verbundenes Bandpaßfilter (28), ein mit dem Ausgang des ersten Wechselstromsignalgenerators (11) verbundenes Bandsperrfilter (29), und eine Schalterschaltung (31) zur wahlweisen Herstellung von Verbindungen zwischen den Ausgängen gewünschter von analogem Schalter, Detektorschaltung, Bandpaßfilter, Bandsperrfilter und erstem Wechselstromsignalgenerator sowie den Eingängen gewünschter von Detektorschaltung, Digitalisierer und Präzisionsspannungsmeßeinheit.

An AC evaluation equipment for checking whether AC devices used in an analog testing part of an IC tester are within predetermined tolerances, said IC tester comprising said analog testing part (100) for mainly performing analog testing of IC's and including: a performance board (32) attached to said analog testing part, for mounting thereon IC's to be tested, said AC evaluation equipment further comprising mounted on said performance board (32): an analog switch (22) connected to the outputs of said DC voltage generator (21) and said timing signal generator (23), for outputting a rectangular wave signal of the frequency and duty ratio of said timing signal input thereinto with a level corresponding to said DC voltage input thereinto; a detector circuit (25) having an input/output frequency characteristic which is substantially flat over a wide band; a band pass filter (28) connected to the output of said second AC signal generator (24); a band elimination filter (29) connected to the output of said first AC signal generator (11); and a switching circuit (31) for selectively establishing connections between the outputs of desired ones of said analog switch, said detector circuit, said band pass filter, said band elimination filter and said first AC signal generator and the inputs of desired ones of said detector circuit, said digitizer and said precision voltage measurement unit.

Testsystem zum Messen von Nebensprech-Ansprechverhalten in einem Verbindungskabel (14), wobei das Verbindungskabel (14) einen ersten Anschluss (16) und einen zweiten Anschluss (20) aufweist, die mit dem entsprechenden ersten und zweiten Ende des Verbindungskabels verbunden sind, wobei das Testsystem ein Testinstrument umfasst, welches Folgendes umfasst: einen Instrumentenanschluss, der gekoppelt ist, um den ersten Anschluss (16) des Verbindungskabels (14) aufzunehmen; einen Impulsgenerator (72) zum Erzeugen erster Auslöseimpulse in einer Übertragungsleitung eines ausgewählten Paares von Übertragungsleitungen in dem Verbindungskabel; einen Digitalisierer (92), der mit dem ersten Anschluss (16) zum Empfangen von Nebensprechsignalen gekoppelt ist, die durch die ersten Auslöseimpulse in der anderen Übertragungsleitung des ausgewählten Paares von Übertragungsleitungen hervorgerufen werden, um einen ersten Zeitdatensatz des Impulsansprechverhaltens des nahen Endes der Nebensprechsignale zu erzeugen; und einen Mikroprozessor (82), der mit dem Digitalisierer (92) gekoppelt ist; dadurch gekennzeichnet, dass das Testsystem weiterhin Folgendes umfasst: eine Ferneinheit (12); wobei die Ferneinheit Folgendes umfasst: einen zweiten Instrumentenanschluss, der gekoppelt ist, um den zweiten Anschluss (20) des Verbindungskabels (14) aufzunehmen; einen zweiten Impulsgenerator, der mit dem zweiten Instrumentenanschluss gekoppelt ist, um zweite Auslöseimpulse in der einen Übertragungsleitung des ausgewählten Paares von Übertragungsleitungen in dem Verbindungskabel zu einer von der Erzeugung der ersten Auslösepulse unterschiedlichen Zeit zu erzeugen; und einen zweiten Digitalisierer, der mit dem zweiten Instrumentenanschluss gekoppelt ist, um weitere Nebensprechsignale von der anderen Übertragungsleitung des ausgewählten Paares von Übertragungsleitungen zu empfangen und einen zweiten Zeitdatensatz des Impulsansprechverhaltens des nahen Endes der weiteren Nebensprechsignale zu erzeugen, wobei der Mikroprozessor den ersten und zweiten Zeitdatensatz des Impulsansprechverhaltens des nahen Endes empfängt, von dem ersten Zeitdatensatz des Impulsansprechverhaltens des nahen Endes einen Beitrag des zweiten Endes zum Nebensprech-Ansprechverhalten entfernt und eine erste Frequenzbereichdarstellung für das erste Ende berechnet und von dem zweiten Zeitdatensatz des Impulsansprechverhaltens des nahen Endes einen Beitrag des ersten Endes zum Nebensprech-Ansprechverhalten entfernt und eine zweite Frequenzbereichdarstellung für das zweite Ende des Verbindungskabels berechnet.

A test system for measuring cross-talk response in a patch cord (14), said patch cord (14) having a first connector (16) and a second connector (20) connected to respective first and second ends of said patch cord, the test system comprising a test instrument which comprises: an instrument connector coupled to receive said first connector (16) of said patch cord (14); a pulse generator (72) for generating first stimulus pulses in one transmission line of a selected pair of transmission lines in said patch cord; a digitizer (92) coupled to said first connector (16) for receiving cross-talk signals induced by said first stimulus pulses in the other transmission line of said selected pair of transmission lines to produce a first near-end pulse-response time record of said cross-talk signals; and a microprocessor (82) coupled to said digitizer (92); characterised in that said test system further comprises: a remote unit (12), said remote unit comprising: wherein said microprocessor receives said first and second near-end pulse-response time records, removes from the first near-end pulse-response time record a cross-talk response contribution from the second end and calculates a first frequency domain representation for said first end, and removes from the second near-end pulse-response time record a cross-talk response contribution from the first end and calculates a second frequency domain representation for said second end of said patch cord.